第103回ジオダイナミクスセミナー
　 　Geodynamics　Seminar

要　旨
　透過型電子顕微鏡（Transmission Electron Microscope; TEM）は，電子顕微鏡の一
種で，観察対象に電子線をあて，それを透過してきた電子を拡大して観察するタイプの電子顕微鏡である．地球科学分野のほか，物理学，化学，生物学，工学，医学などで幅広く用いられている．
　電子線を透過させるためには，非常に薄い試料（加速電圧200 kVの観察においては，厚さ100 nm程度）を準備しなくてはならない．しかし，試料作製中や電子顕微鏡での観察中に試料の構造が変化してしまうことがある．
　本発表では，薄膜試料中の物質本来の性質を検討するため，高加速電圧の電子顕微鏡（1000 kV）を用いて，構造が変化していないと考えられる領域の観察を行った結果を紹介する．





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