微小試料分析装置群
電子顕微鏡および関連装置
数万倍以上の高倍率下での高分解能観察が可能な電子顕微鏡．主に高圧実験からの回収試料の極微小領域の組織観察・化学組成分析に用いる．エネルギー分散型X線分光装置（EDS; Oxford, X-max20，ドライタイプ・SDD）および電子線後方散乱回折装置（EBSD），カソードルミネッセンス検出器（Gatan, MiniCL）を備えており，元素定量・定性分析や結晶方位解析などを通して多面的な物性評価が可能。
主に高圧実験からの回収試料の微細組織観察・化学組成分析に用いる．元素定量・定性分析用に最新型のエネルギー分散X線分光（EDS）検出器（Oxford, X-max50，ドライタイプ・SDD）を備えている。
試料の微細組織観察や化学組成分析に用いる．表面組織を観察するSEMとは異なり，電子線の透過・回折像から試料内部の微細組織や結晶構造分析を行う。高速CCDカメラ2基（Gatan, Orius200D, 1000）を備えており，数十万倍下での高分解能像観察も可能．元素定量・定性分析用にエネルギー分散X線分光（EDS）検出器（JEOL，JED-2200）を備えている。
ガリウムイオンビームを試料に照射して断面観察用の試料加工を行う装置。主に，ATEM観察用の薄膜作成に用いるほか，ビーム照射時の二次電子像（SIM像）を利用した試料観察，特に，極微小のDAC試料の加工・観察にも有用。
主に走査型電子顕微鏡観察の試料の帯電防止加工処理に使用．蒸着材料にはそれぞれ長所・短所があるため，目的に応じて選択する。特にオスミウム蒸着装置は，膜厚の正確なコントロールおよび極めて薄い製膜が可能であり，複雑な凹凸組織を持つ試料や高分解能像観察，および化学分析に特に有効である。
その他
・イオンスライサ IS（JEOL, EM-09100 IS）
・クロスセクションポリッシャ CP（JEOL, IB-19510CP）
・アルゴンイオンミリング装置 Ar milling（Gatan, PIPS）
Ｘ線・その他分光装置
試料の微小領域からのX線回折パターンを二次元検出器により測定する．CuとMoの2線源の切替が可能で，CuKαを用いた一般的な反射，透過測定に加え，透過力が高く，波長の短いMoKαとDACの組み合わせによる高圧下X線回折測定に使用。
粉末試料や薄膜試料のX線回折パターンをゴニオメータ光学系により測定する装置. 目的に応じ、基本光学系である「集中光学系」と「平行ビーム光学系」、「小角散乱光学系」の切替が可能．検出器には標準のシンチレーションカウンタの他に、高速・高感度測定が可能な高速一次元検出器「D/teX Ultra」を搭載している．主に，粉末・バルク試料の相同定や格子定数精密測定に使用する。
その他
・顕微ラマン分光装置 RAMAN（日本分光，NRS-5100；PHOTON Design, RSM 800）
・顕微赤外分光装置FT-IR（日本分光, IRT-5200EUO）
・紫外可視近赤外分光システム UV-Vis-NIR（日本分光, Jasco V-670）
